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日本共立水质测试包

辐射检测仪

ECI CVS产品

PCB残厚测量仪

UV测量计

ERM-EC680k 低浓度 RoHS标准分析,100克颗粒/瓶 ERM-EC681k 高浓度 RoHS标准分析,100克颗粒/瓶 材料Low-density polyethylene, LDPE, plastic, 材料Low-density polyethylene, LDPE, plastic, …
MD-200 COD测定仪,适用于0-150、0-1500、0-15000 mg/l三种范围,符合USEPA 410.4、ISO15705标准方法。 高品质光学元件,轻便精巧操作简便,单次归零OTZ功能。可立即使用的德国原厂专用试剂,取代传统加热回流方法,准确度再现性高。 ●型号:MD200 COD Vario (德国Tintometer) ●光源:长效型LED光学元件,610、430 nm ●电源:3号电池四个 ●范围:0-150、0-1500、0-15000…

Fischer标准片

编号:Ag-Sn/Sn-Pb/Pd-Ni/Ni-P

Fischer标准片Ag-Sn/Sn-Pb/Pd-Ni/Ni-P X射线测厚仪标准校正片,建档标准片,校正标准片,X射线标准校正,美国Cal膜厚仪标准片Calibration Standard: X射线测厚仪标准片 镀层标准片膜厚片 测厚仪标准片 其专门为仪器大厂如Fischer、Oxford(CMI)、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生产制作标准样品。 适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray(X射线测厚仪)、 β-ray(β射线测厚仪)、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。特色:标准片A2LA校正认证,质量精良,精度高、稳定性好 X-Ray、β-Ray、磁感式、涡电流式专用标准片 测厚仪标准片又名膜厚仪校准片或者薄膜片,专业用于X…
CMI233 涂层测厚仪 CMI233 两用型涂层测厚仪,可测量:磁性底材上的非磁性涂层厚度,如钢铁上的非磁 性涂镀层,油漆、塑料、搪瓷、铬、锌等;非磁性底材上的非磁性涂层厚度,如铜、铝、奥 氏体不锈钢上的所有绝缘层,阳极氧化膜、油漆、涂料等。 主要用于:涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业的表面涂层。 探针类型 探针形状 探针型号 最小凸面 半径mm 最小凹面 半径mm 测量高度 mm 最小测 量区域 mm 最小识 别直角 mm 底材最 小厚度 mm 笔直 ECP 11.2 (0.5") 11.2 (0.44") 102 (4.0") 电涡流 直角 REP-3 9.2 (0.36") 14.6 (0.575") 笔直 SMP-2 1.6 (0.06"…

CMI700面铜探头探针SRP-4

编号:CMI/SRP-4

CMI 700专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。 ----------------------------------------------------------- CMI 760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI 700台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性,对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。 同时CMI 760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。 ----------------------------------------------------------- CMI 700配置包括: CMI 700主机及证书 SRP-4探头 SRP-4探头替换用探针模块(…

CMI700孔内铜探头ETP

编号:CMI700/ETP

CMI 700专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。 ----------------------------------------------------------- CMI 760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI 700台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性,对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。 同时CMI 760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。 ----------------------------------------------------------- CMI 700配置包括: CMI 700主机及证书 SRP-4探头 SRP-4探头替换用探针模块…

CMI700面铜探头SRP-4

编号:CMI700/SRP-4

CMI 700专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。 ----------------------------------------------------------- CMI 760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI 700台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性,对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。 同时CMI 760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。 ----------------------------------------------------------- CMI 700配置包括: CMI 700主机及证书 SRP-4探头 SRP-4探头替换用探针模块(…

CMI200绿油涂层测厚仪

编号:CMI200/CMI233

深 圳市安达仪器仪表有限公司——牛津仪器中国区域一级代理商 CMI200涂层测厚仪 CMI233 两用型涂层测厚仪,可测量:磁性底材上的非磁性涂层厚度,如钢铁上的非磁 性涂镀层,油漆、塑料、搪瓷、铬、锌等;非磁性底材上的非磁性涂层厚度,如铜、铝、奥 氏体不锈钢上的所有绝缘层,阳极氧化膜、油漆、涂料等。 主要用于:涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业的表面涂层。 探针类型 探针形状 探针型号 最小凸面 半径mm 最小凹面 半径mm 测量高度 mm 最小测 量区域 mm 最小识 别直角 mm 底材最 小厚度 mm 笔直 ECP 11.2 (0.5") 11.2 (0.44") 102 (4.0") 电涡流 直角 REP-3 9.2 (0.36") 14.6…

CMI243金属镀层测厚仪

编号:CMI200/CMI243

CMI 200系列CMI 243膜厚仪 英国牛津Oxford CMI 243是一款专门为测量磁性金属基材上的锌、镍、铬、镉等镀层厚度而设计的便携式膜厚仪。独特的涡电流测试方法使测量更精确。高端配置的测量探头对细小的零件也可以精确测量。它具有X射线荧光的测量精度,同时也避免了库仑法对被测工件带来的破坏。CMI 243在设计上更加合理、可靠、实用。 ●ECP-M探头:锌、镍、铬、镉均可以测量 ●准确度:±1% ●测量范围:0.08-1.50mils(2-38μm) ●分辨率:0.01mils (0.1μm) ●适用标准:符合ASTM B244—b259, DIN 50984,ISO 2360,ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3 ●单位:英制和公制单位自动转换 ●统计数据显示:读取次数,平均值,标准差,…
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